JMP® für die Qualitätsverbesserung

Zur Untersuchung Ihrer Prozesse müssen Sie die Fähigkeiten Ihrer Maßsysteme verstehen und quantifizieren, wie viel Variation diese Maßsysteme bewirken. Die leistungsstarke Variabilitätsplattform in JMP unterstützt Untersuchungen der Haupteffekte sowie gekreuzte, verschachtelte und andere Datenuntersuchungen zur Bestätigung der Stabilität Ihrer Maßsysteme oder zur Erkennung von Bereichen, die verbesserungswürdig wären, damit Sie Ihre Prozesse mit einem hohen Vertrauensfaktor analysieren können.

Das Verständnis der Anforderungen Ihrer Kunden an Ihr Produkt oder Ihre Dienstleistung ist für die Gesundheit Ihres Unternehmens im modernen Marktumfeld von entscheidender Bedeutung. Die Kategorieplattform in JMP erstellt Tabellen und Übersichten über Daten in Kategorieergebnissen und bietet einfach zu interpretierende Share-Diagramme, mit denen die Reaktionen Ihrer Kunden rasch erfasst werden können. Feedback kann in vielerlei Gestalten erfolgen: Befragungen, Beschwerden oder Nebenwirkungen eines neuen Arzneimittels. Die Kategorieplattform unterstützt eine Vielzahl von Datenformaten für Ihren analytischen Bedarf.

Sie können die flexible Pareto-Plattform in JMP verwenden, um Produktdefektanalysen nach Frequenz, Kosten oder anderen qualitätskritischen Parametern zu bewerten. Kombinieren Sie interaktive Ursachen oder definieren Sie einen Schwellenwert für kombinierte Ursachen vorab, damit eine Konzentration auf die wichtigsten Ursachen erfolgen kann. Sie können auch zusätzliche Variable zuweisen, um Mehrweg-Pareto-Plots zu erstellen. Zudem ist es sehr einfach, diese Plots in Tortendiagramme zu verwandeln.

JMP bietet eine Serie von Diagrammoptionen für die statistische Prozesskontrolle (Statistical Process Control, SPC), um Sie bei Ihren Maßnahmen zur Prozessanalyse zu unterstützen, einschließlich Problemerforschung, außer Kontrolle geratenen Bedingungen und laufende Überwachung der Stabilität. Die Kontrolldiagramm-Plattformen bieten viele Leistungsmerkmale wie beispielsweise die Möglichkeit, den Diagrammen, der Phase sowie den blockierenden und flexiblen Kontrolldiagrammregeln weitere Datendimensionen hinzuzufügen.