この例では、50 個のコンデンサーを3 つの温度条件下(摂氏85度、105度、125度)で1500時間試験しました。結果は、「Capacitor ALT.jmp」サンプルデータテーブルに記録されています。試験結果から得られたモデルに基づき、通常の使用温度条件下(摂氏25度)で100,000時間試験した場合の累積故障確率を推定します。
1.
[ヘルプ]>[サンプルデータライブラリ]を選択し、「Design Experiment」フォルダ内の「Capacitor ALT.jmp」を開きます。
2.
緑色の三角ボタンをクリックし、「寿命の二変量」テーブルスクリプトを実行します。
「温度」の上の「105」をクリックし、「25」に変更します。
「時間」の上の「750.5」をクリックし、「100,000」に変更します。
図21.9 コンデンサモデルの「分布プロファイル」
2.
[1因子]を選択して[続行]をクリックします。
3.
「因子名」「温度」と入力します。
4.
「水準数」に「5」と入力します。
5.
「最低使用条件」「最高使用条件」の両方に「25」と入力します。
6.
[続行]をクリックします。
7.
「温度 水準値」に「85」、「90」、「105」、「110」、「125」と入力します。
8.
「分布の選択」[Weibull]が選択されていることを確認します。
図21.10 「Weibull 結果」レポートのパラメータ推定値およびあてはめたモデル
「切片」に「-35.200」と入力します。
「温度」に「1.389」と入力します。
「尺度」に「1.305」と入力します。
Weibull分布の場合、JMPでは、位置パラメータmおよび尺度パラメータsによって、異なるパラメータ化が使用されます。通常のaおよびbのパラメータ化において、尺度パラメータはs=1/bです。 JMPのWeibullパラメータ化を参照してください。
10.
「診断の設定」で、「興味がある時間範囲」の両方のボックスに「100,000」と入力します。「興味がある確率」は、「0.1」のままにしておきます。
11.
「計画の設定」で、「試験期間」に「1500」と入力します。
12.
「試験で用いるユニット数」に「250」と入力します。
図21.11 は、入力を完了した「加速寿命試験計画」です。
図21.11 設定後の計画の詳細ウィンドウ
13.
[続行]をクリックします。
14.
前回の実験の「温度」の各設定にあるユニットを考慮するため、「候補の実験数」で次の値を入力します。
15.
「加速寿命試験計画」の赤い三角ボタンをクリックし、メニューから[ALT最適化基準]>[確率 I-最適計画の作成]を選択します。
この操作により、手順16で計画を作成する際、「最適化基準」が使われます。「最適化基準」の詳細については、確率 I-最適計画の作成を参照してください。
16.
[計画の作成]をクリックします。
図21.12 最適計画
図21.13 温度 = 25、時間 = 100000の分布プロファイル