ここでは、集積回路(IC)の製造工程で生じる不適合の原因をまとめた「Failure3.jmp」データテーブルを使います。不適合の原因と、不適合が生じる状況を調べてみましょう。
1.
[ヘルプ]>[サンプルデータライブラリ]を選択し、「Quality Control/Failure3.jmp」を開きます。
3.
「度数」を選択し、[サイズ]をクリックします。
4.
「原因」「洗浄」を選択し、[カテゴリ]をクリックします。
5.
「洗浄」を選択し、[色分け]をクリックします。
6.
[OK]をクリックします。
図10.18 不適合の原因
図10.18 からは次のようなことがわかります。