1.
[ヘルプ]>[サンプルデータライブラリ]を選択し、「Wafer Stacked.jmp」を開きます。
3.
起動ウィンドウの左下のリストで、[通常のデータ][積み重ねたデータ]に変更します。
4.
「不適合」を選択して[Y, 列]をクリックします。
5.
「X_ダイ」「Y_ダイ」を選択して、[属性のID]をクリックします。
6.
「ロット」「ウエハー」を選択して、[対象のID]をクリックします。
7.
左下隅にあるオプションリストから、[空間的な指標の計算]を選択します。
図6.8 設定後の「クラスター分析」起動ウィンドウ
8.
[OK]をクリックします。
図6.9 「空間的な指標」ウィンドウ
1423箇所において、「不適合」か否かが測定されたため、属性は1423個あります。
9.
[OK]をクリックして、「空間的な指標」ウィンドウの選択を確定します。
11.
12.
「7」と入力し、[OK]をクリックします。
13.
図6.10 「クラスター要約」レポート