この例で使用する「Failuressize.jmp」サンプルデータテーブルは、「度数」の列がある不適合のデータであり、集積回路(IC)の2つの製造工程で生じる不適合の原因と、不適合が生じた回数をその種類別にまとめたものです。諸原因(「Oxide Defect」、「Silicon Defect」など)の下に、「size」という名前の原因があります。原因コードとして「size」を指定して、該当する行を、標本サイズを含む行として指定します。
1.
[ヘルプ]>[サンプルデータライブラリ]を選択し、「Quality Control」フォルダにある「Failuressize.jmp」を開きます。
2.
[分析]>[品質と工程]>[パレート図]を選択します。
3.
「原因」を選択して、[Y, 原因]をクリックします。
4.
「プロセス」を選択し、[X, グループ変数]をクリックします。
5.
「度数」を選択し、[度数]をクリックします。
6.
[ユニットあたりの分析]を選択し、[度数列の値]を選択します。
7.
「原因コード」「size」と入力します。
8.
[OK]をクリックします。
図11.12 「パレート図」レポートウィンドウ
9.
赤い三角ボタンのメニューから[度数分析]>[ユニットあたりの比率][度数分析]>[グループ間の比率の検定]を選択します。
図11.13 [ユニットあたりの比率]と[グループ間の比率の検定]の結果