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扩充加速寿命试验设计的示例
下面的示例说明如何使用“加速寿命试验设计”平台扩充现有设计。
在本例中，在三个温度（85o、105o 和 125o 摄氏度）下对 50 个电容单元进行了 1500 小时的试验。结果记录在 Capacitor ALT.jmp 样本数据表中。生成的模型用于预测 25o 摄氏度的正常使用温度下，经过 100,000 小时后失效的总体比例。
检查当前预测
1.
选择帮助 > 样本数据库，然后打开 Design Experiment/Capacitor ALT.jmp。
2.
点击绿色小三角以运行以 X 拟合寿命表脚本。
3.
在“分布刻画器”中（位于“分布”选项卡上的“比较”报表中），请执行以下操作：
‒
点击温度上方的 105 并将其改为 25。
‒
点击小时上方的 750.5 并将其改为 100,000。
电容模型的分布刻画器
根据您当前的研究，预测的在 25o 下经过 100,000 个小时失效的总体比例为 0.00358，置信区间为 0.00056 到 0.02268。您想要更为精确地估计失效比例。要减小置信区间的宽度，需使用其他试验扩充研究。
扩充设计
您想要扩充设计，以获取关于预测失效比例的更为精确的估计值。原始设计使用的温度设置为 85、105 和 125。在扩充设计中，您想要试验温度值 90、110 和 125。请注意，其中两个都是新设置。要使用优选的试验扩充设计，请执行以下步骤：
1.
选择实验设计 > 特殊目的 > 加速寿命试验设计。
2.
选择针对一个加速因子设计并点击继续。
3.
为因子名称输入温度。
4.
为水平数输入 5。
尽管您的扩充试验仅跨越三个水平（90、110 和 125），您仍必须指定最初实验中使用的水平，所以总水平数是五个。“因子变换”默认设置为“Arrhenius 摄氏温度”。
5.
为使用条件下限和使用条件上限均输入 25。
6.
点击继续。
7.
为温度水平值输入 85、90、105、110 和 125。
三个水平来自最初实验（85、105 和 125）。扩充设计将新增两个水平（90 和 110）以及来自第一个实验的水平之一 (125)。所有水平都必须列出来。
8.
确保将 Weibull 选作分布选择。
9.
在先验均值下，输入“以 X 拟合寿命估计值”报表中的加速模型参数估计值，该报表位于“统计量”选项卡上的“Weibull 结果”报表中。
“Weibull 结果”报表中的参数估计值和拟合模型
‒
为截距输入 -35.200。
‒
为温度输入 1.389。
这是活化能量的估计值，也是乘以 Boltsmann 常数后用开氏温度衡量的逆温度的系数。
‒
为尺度输入 1.305。
对于 Weibull 分布，JMP 使用依赖于位置参数 μ 和尺度参数 σ 的参数化。依照常见的 α 和 β 参数化，尺度参数为 σ = 1/β. 。请参见JMP Weibull 参数化。
在“加速寿命试验计划”窗口中，您可以指定关于在“先验方差矩阵”分级显示项中的先验均值的不确定性。在本例中，不要对“先验方差矩阵”分级显示项做出任何更改。在假定先验均值为真实参数值的前提下创建您的设计。
10.
在“诊断选择”下，为关注的时间范围的两个框均输入 100,000。保持关注的概率值设置为 0.1。
11.
在“诊断选择”下，为试验长度输入 1500。
该试验将进行 1500 小时以上，这是原始设计的时长。
12.
为试验单元的数量输入 250。
之前的实验试验了 150 个单元，扩充实验还要另外试验 100 个单元，总计 250 个单元。
完成的“设计详细信息”窗口 显示完成的“加速寿命试验计划”分级显示项。
完成的“设计详细信息”窗口
13.
点击继续。
14.
要解释上一个实验中的每一温度设置下的单元，在候选试验下输入以下内容。
‒
对于温度 85、105 和 125，为每个温度输入“最小单元数”50。
15.
从“ALT 计划”红色小三角菜单中，选择 ALT 最优性准则 > 制作概率 I 最优设计。
这会指示 JMP 在步骤 16 中创建设计时使用概率最优性准则。有关该准则的详细信息，请参见制作概率 I 最优设计。
16.
点击制作设计。
将显示最优实验设计以及其他结果。
最优设计
基于检验试验的水平、要试验的最小单元数、要试验的单元总数（即“候选试验”中的信息）以及您之前指定的其他信息来计算最优设计。最优设计会在每个温度水平下试验以下单元数：
•
在 85o 下包含 50 个单元。由于上一个实验已经在 85o 下试验了 50 个单元，所以无需更多单元。
•
在 90o 下包含 89 个单元。下一个实验将在 90o 下试验 89 个单元。
•
在 105o 下包含 50 个单元。由于上一个实验已经在 105o 下试验了 50 个单元，所以无需更多单元。
•
在 110o 下包含 0 个单元。下一个实验不会试验该水平的任何单元。
•
在 125o 下包含 61 个单元。由于上一个实验已经在 125o 下试验了 50 个单元，所以还需要 11 个单元。
将扩充设计与最初研究作比较
1.
在“分布刻画器”中，为“温度”输入 25，为“时间”输入 100,000。失效的总体比例估计值为 0.00357，95% 置信区间为 0.00093 到 0.01361。该区间比最初实验中的区间（介于 0.003575 到 0.02268 之间，如电容模型的分布刻画器所示）要窄。
温度 = 25，时间 = 100000 时的分布刻画器