Semiconductor Capability.jmp 样本数据表包含 128 列过程测量值。每个列包含 1,455 个测量值。您想知道过程的哪些地方不稳定。此外，每个列包含“规格限”列属性。若过程稳定，则适合计算过程能力。您接着评估该数据表的稳定性和能力。
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选择分析 > 筛选 > 过程筛选。
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点击确定。
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点击“过程筛选”旁边的红色小三角菜单，然后选择选定项的快速图形。
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在“汇总”表中选择第二个过程，它对应于 IVP8。
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点击“过程筛选”旁边的红色小三角菜单，然后选择选定项的控制图。
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将显示“控制图生成器”报表。因为 IVP8 有“规格限”列属性，该报表还包含能力分析。