选项面板和右击图表选项

‒	统计量更改在图上标绘的统计量。请参见统计量。

‒	单个点显示或隐藏子组中的单个观测。仅适用于子组变量或“设置样本大小”。该选项不适用于“计数”图表类型或稀有事件图。

‒	显示连接线显示点之间的连接线。

‒	显示点显示或隐藏图上的点。

限值

提供以下选项：

‒	Sigma 指定计算 sigma 的方法。请参见Sigma。

‒	区域显示或隐藏图上的区域。区域定义为均值两侧的一个、两个和三个 sigma 范围。“控制图生成器”不会将一个区域延展到与另一个区域重叠。若限值不以均值为中心，则将以 (上控制限-平均值)/3 所得的值用作每个区域的宽度。不在下控制限下方或上控制限上方绘制区域。仅适用于“计量”和“计数”图表类型。

‒	规格限显示或隐藏图上的规格限。仅当数据表具有“规格限”列属性时才显示。《使用 JMP》手册中的规格限详细介绍如何添加该列属性。

‒	设置控制限支持您输入用于检验的控制限。在“设置控制限”窗口中点击确定后，在各组间均匀设置指定的控制限。再次选择该选项可删除指定的控制限。

‒	添加限值指定要在图上标绘的其他控制限。这些限值不用在检验中。

‒	显示限值显示或隐藏图上的控制限。

‒	显示中心线隐藏或显示图上的中心线。

添加散度图

向图区域添加散度图。使用点选项更改图表类型。散度图可通过标绘众多散度形式之一（包括极差、标准差或移动极差）来说明数据中的变异。仅适用于“计量”图表类型。

设置样本大小

设置子组大小。计算限值和 sigma 时会考虑缺失值。

警告

提供以下选项：

‒	定制检验支持您设计定制检验，并同时选择或取消选择多个检验。选定该选项后，随即显示“定制检验”窗口，供您设计检验。选择检验说明，然后输入所需的编号 (n) 和标签。您可以将设置保存到首选项中，也可以恢复默认设置。仅适用于“计量”和“计数”图表类型。

‒	检验支持您选择要启用的统计控制检验。有关检验的详细信息，请参见检验。仅适用于“计量”和“计数”图表类型。

注意：将光标移至图上某个标记点上方可查看失败检验的说明。

‒	Westgard 规则支持您选择要启用的 Westgard 统计控制检验。由于 Westgard 规则基于 sigma 而不是区域，所以可以在不考虑常数样本大小的情况下计算这些规则。有关检验的详细信息，请参见Westgard 规则。仅适用于“计量”和“计数”图表类型。

‒	检验超出界限支持对超出控制限的所有点进行检验。这些点标识在图上。该检验适用于具有限值的所有图，不论样本大小是否相同。

删除图形

删除控制图。适用于具有多个 Y 图表的控制图。

注意：有关行、图形、定制和编辑菜单的说明，请参见《使用 JMP》手册。

统计量

您可以更改图上各点所表示的统计量。可用选项取决于选定的图表类型。

对于“计量”图表类型，您可以使用以下选项更改图上各点所表示的统计量：

单值

创建一个图，其中每个点都表示数据表中的单个值。

平均值

创建一个图，其中每个点都表示子组中的值的平均值。

极差

创建一个图，其中每个点都表示子组中的值的极差。

标准差

创建一个图，其中每个点都表示子组中的值的标准差。

创建一个图，其中每个点都是两个相邻观测之间的差值。

注意：仅当指定了样本大小大于 1 的子组变量或设置了样本大小时，“平均值”、“极差”、“标准差”、“基于均值的移动极差”和“基于标准差的移动极差”方法才会显示。

对于“计数”图表类型，您可以使用以下选项更改图上各点所表示的统计量：

比例

创建一个图，其中每个点都表示子组样本中的项比例。

计数

创建一个图，其中每个点都表示子组样本中的项数。

对于“稀有事件”图表类型，图上各点所表示的统计量使用以下选项：

计数

创建一个图，其中每个点都表示子组样本中的项数。

Sigma

您可以更改计算图表 sigma 的方法。可用选项取决于选定的图表类型。

对于“计量”图表类型，您可以使用以下选项：

使用移动极差估计 sigma。移动极差是两个相邻点之间的差值。

Levey-Jennings

使用所有观测的标准差估计 sigma。

对于“计数”图表类型，您可以使用以下选项：

二项

使用二项分布模型估计 sigma。该模型指示一系列实验中的成功次数，每次实验结果都有一定的成功概率。选择“二项”可生成 p 图或 np 图。

Poisson

使用 Poisson 分布模型估计 sigma。该模型指示事件数以及这些事件在给定时间间隔内出现的时间。选择 Poisson 可生成 c 图或 u 图。

对于“稀有事件”图表类型，您可以使用以下选项：

负二项

使用负二项分布模型估计 sigma。该模型指示在达到指定的失败次数之前，一系列试验中的成功次数。选择“负二项”可生成 g 图。

Weibull

使用 Weibull 分布模型估计 sigma。该模型指示平均失败间隔时间。选择 Weibull 可生成 t 图。

检验

右击菜单或窗口左侧中的警告选项显示检验选项的子菜单。您可以从菜单中选择一个或多个特殊原因的检验（Western Electric 规则）。Nelson (1984) 制定了一种用于在控制图上标识特殊检验的编号表示法。这些检验同时适用于大小相等和不等的样本。

若选定的检验对于特定样本显示为阳性，则该点将使用检验编号来标注。若选择要显示多个检验，而有不止一个检验在某个特定点上发出信号，则该点旁边将显示指定的编号最低的检验的标签。您可以将光标移至图上某个标记点上方，以查看失败检验的说明。

提示：要一次添加或删除几个检验，请在警告 > 检验下的“控制面板”中选择或取消选择这些检验。

特殊原因检验的说明与解释列出并解释了八个检验，特殊原因检验的演示演示了这些检验。以下规则适用于各检验：

•	上限与下限之间的范围划分为六个区，每个区的宽度均为一个标准差。

•	这些区分别标注为 A、B、C、C、B、A，C 区距离中心线最近。

•	若某个点位于 C 区与 B 区分隔线之外，即距离中心线超过一个标准差，则该点位于 B 区之中或之外。

•	位于两个区分隔线上的任何点均被视为属于靠内区。因此，若某个点位于 A 区和 B 区之间的线上，该点被视为处于 B 区中。

检验 1 到 8 适用于所有 Shewhart 图表类型。

检验 1、2、5 和 6 分别适用于图的上半部和下半部。检验 3、4、7 和 8 适用于整个图。

请参见 Nelson (1984, 1985)，了解关于如何使用这些检验的更多建议。

Western Electric 区域规则

特殊原因检验的说明与解释
检验 1	A 区外的一点	检测均值中的偏移、标准差增大或过程中的单个偏差。为了解释检验 1，可以使用任何散度图（R、S 或 MR）排查变异增大情况。
检验 2	C 区单侧（上或下）或 C 区外的连续九个点	检测过程均值中的偏移。
检验 3	持续增大或减小的连续六个点	检测过程均值中的趋势或漂移。
检验 4	交替升降的连续十四个点	检测系统效应，如两个轮换使用的机器、供应商或操作员。
检验 5	连续三个点中的两个点落在 A 区之中或之外，而且点本身落在 A 区之中或之外。	检测过程平均值中的偏移或标准差增大。三个点中任意两个点都给出阳性检验结果。
检验 6	连续五个点中的四个点落在 B 区之中或之外，而且点本身落在 B 区之中或之外。	检测过程均值中的偏移。五个点中任意四个点都给出阳性检验结果。
检验 7	C 区之中、中心线上下连续十五个点	当单个子组中的观测来自具有不同均值的多个源时，检测分层的子组。还检测变异减小。
检验 8	在中心线两侧连续八个点，没有一点落在 C 区	当一个子组中的观测来自单个源，但不同子组来自具有不同均值的多个源时，检测分层的子组。

Nelson (1984, 1985)

特殊原因检验的演示¹

Westgard 规则

当您右击图或窗口左侧后，可以通过警告选项的 Westgard 规则子菜单来实施 Westgard 规则。不同的检验缩写为针对特定检验的决策规则。例如，1 2s 指的是一个点距离均值两个标准差的检验。

规则 1 2S 通常用于 Levey-Jennings 图，其中的控制限设置为距离均值两个标准差。有任一点超出这些限值就会触发该规则。

规则 1 3S 指的是常用于 Levey-Jennings 图的规则，其中的控制限设置为距离均值三个标准差。有任一点超出这些限值就会触发该规则。

规则 2 2S 在两个相邻控制测量值位于距离均值两个标准差以外时触发。

规则 R 4S 在以下条件下触发：一个测量值位于距离均值两个标准差以外，而且前一个测量值位于相反方向上距离均值两个标准差之外的位置，以至于差值大于四个标准差。

规则 4 1S 在四个相邻测量值位于距离均值一个标准差以外时触发。

规则 10 X 在十个相邻点位于均值同侧时触发。

Nelson (1984, 1985)