目标图为每个变量在 x 轴上显示规格标准化均值偏移,在 y 轴上显示规格标准化标准差。该图可用于快速提供关于变量是否符合规格限的汇总视图。将光标置于每个点上方可查看变量名。目标图红色小三角菜单包含以下命令:
目标图显示在从“目标图”红色小三角菜单中选择着色 CPK 水平后,Semiconductor Capability.jmp 样本数据表的整个数据集的目标图。
目标图
规格标准化均值偏移 = (均值(列[i]) - 目标) / (上规格限[i] - 下规格限[i])
规格标准化标准差 = 标准差(列[i])/ (上规格限[i] - 下规格限[i])