本例使用 Failuressize.jmp 样本数据表,其中包含失败数据和一个频数列。表中列出集成电路制作过程中失败的原因,以及两个过程中出现每种类型缺陷的次数。在其他原因(氧化层缺陷、硅缺陷等)中,有一种原因标记为 size。将大小指定为原因代码,即可将行指定为大小行。
1.
选择帮助 > 样本数据库,然后打开 Quality Control/Failuressize.jmp
2.
选择分析 > 质量和过程 > Pareto 图
3.
选择失败原因并点击 Y,原因
4.
选择工序并点击 X,分组
5.
选择计数并点击频数
6.
选择每单位分析,然后选择频数列中的值
7.
代码原因中输入 size
8.
点击确定
“Pareto 图”报表窗口
9.
从红色小三角菜单中选择计数分析 > 每单位比率计数分析 > 检验组间比率
“每单位比率”和“检验组间比率”的结果