合并原因阈值的示例

本例使用 Failure.jmp 样本数据表，其中包含失败数据和一个频数列。表中列出集成电路制作过程中失败的原因，以及每种类型缺陷出现的次数。为该示例指定的阈值为 2。

1.	选择帮助 > 样本数据库，然后打开 Quality Control/Failure.jmp。

2.	选择分析 > 质量和过程 > Pareto 图。

3.	选择失败并点击 Y，原因。

4.	选择数量并点击频数。

5.	选择合并原因阈值，然后选择计数。

6.	输入 2 作为阈值。

点击确定。

阈值计数为 2 的 Pareto 图显示在指定计数 2 后标绘的图。计数为 2 或小于 2 的所有原因都合并为标签为“4 其他”的最后一个直条。

8.	要将合并的直条分离成原因分离后的 Pareto 图中所示的原始类别，请选择原因>分离原因。