目标图

目标图为每个变量在 x 轴上显示规格标准化均值偏移，在 y 轴上显示规格标准化标准差。该图可用于快速提供关于变量是否符合规格限的汇总视图。默认情况下，“目标图”仅显示每列使用总 sigma 计算的那些点。将光标置于每个点上方可查看变量名以及用于计算点的 sigma 方法。有关“目标图”坐标计算的详细信息，请参见目标图。

注意：非“正态”分布的过程变量不会标绘在目标图上。

目标图点

目标图上各点对应的是列而不是行。在目标图中选择某个点也会选择数据表中的相应列。

目标图上的点还链接至“目标图汇总表”中的行，其中每行都对应一列。您可以选择目标图中的某个点，右击并应用行状态。这些行状态应用于“目标图汇总表”中的行。您在“目标图汇总表”中应用的行状态反映在目标图中。要查看该表，请从“过程能力”红色小三角菜单中选择“制作目标图汇总表”。请参见制作目标图汇总表。

提示：若隐藏目标图中某个点，则可以通过更改“目标图汇总表”中的相应行状态再次显示该点。

目标图三角形

目标图三角形显示在目标图底部中央。图下方的滑块支持您调整图中目标三角形的大小。

默认情况下，Ppk 滑块和其下的值设置为 Ppk = 1。这近似不合格率为 0.0027（若为正态分布）。目标三角形表示框中显示的 Ppk。要更改 Ppk 值，请移动滑块或在框中输入数字。

默认情况下，JMP 根据 Ppk 值提供“目标图”。您可以通过文件 > 首选项 > 平台 > 过程能力更改该首选项。若未选中 AIAG (Ppk) 标签首选项，则所有 Ppk 标签都将改为 Cpk 标签，包括目标图下滑块的标签。

目标图选项

“目标图”红色小三角菜单包含以下选项：

显示组内 Sigma 点

显示或隐藏使用组内 sigma 估计值计算的点。

显示总 Sigma 点

显示或隐藏使用总 sigma 估计值计算的点。

着色水平

显示或隐藏 Ppk 水平着色。请参见目标图。选择“着色水平”时，着色区域显示在图中。着色区域说明如下，其中使用 p 来表示 Ppk 下方框中显示的值：

‒	红色区域中的点：Ppk < p。

‒	黄色区域中的点：p < Ppk < 2p。

‒	绿色区域中的点：2p < Ppk。

添加组内 Sigma 点标签

显示或隐藏使用组内 sigma 估计值计算的点的标签。

添加总 Sigma 点标签

显示或隐藏使用总 sigma 估计值计算的点的标签。

缺陷率等高线

显示或隐藏表示指定缺陷率的等高线。

目标图显示在从“目标图”红色小三角菜单中选择着色水平和显示组内 Sigma 点后，Semiconductor Capability.jmp 样本数据表的整个数据集的目标图。

目标图

单侧或缺失规格限

若某列只有一个规格限，则标记和颜色的使用方式如下：

•	若仅指定了上规格限 (USL)，目标图上的点通过指向右侧的三角形来表示且标记为蓝色。

•	若仅指定了下规格限 (LSL)，目标图上的点通过指向左侧的三角形来表示且标记为红色。

•	若至少有一个过程仅有上规格限，则目标三角形的右半部分为蓝色。

•	若至少有一个过程仅有下规格限，则目标三角形的左半部分为红色。

仅有上规格限的过程用蓝色表示，所以应该与目标三角形的蓝色（右）侧相比较。仅有下规格限的过程用红色表示，所以应该与目标三角形的红色（左）侧相比较。有关如何计算点坐标的详细信息，请参见目标图。