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计数控制图
在之前的各种图中，测量值数据均为过程变量。该数据往往是连续的，所以这些图基于适用于连续数据的原理。另一种类型的数据是计数数据，其中关注的变量是每个子组的缺陷数或瑕疵数的离散计数。离散计数数据适用计数图，因为这些数据基于二项模型和 Poisson 模型。由于是按子组来测量计数，所以在比较各图时，确定各图之间的子组中项数是否相似这点很重要。计数图和计量图一样，按照在图上标绘的子组样本统计量来分类。
确定使用哪一种计数图
每项若非合格即为不合格：
p 图
显示缺陷项的比例。
np 图
显示缺陷项的数目。
对于每项计算缺陷数：
c 图
显示缺陷项的数目。
u 图
显示缺陷项的比例。
对于计数图，将包含缺陷计数或缺陷比例的列指定为“过程”变量。数据被解释为计数，除非该列包含 0 到 1 之间的非整数值。
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p 图显示子组样本（大小可能会发生变化）中不合格（缺陷）项的比例。由于 p 图的每个子组都包含 Ni 项，而且任一项若非合格即为不合格，所以子组中的不合格项的最大数目为 Ni。
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np 图显示子组样本中不合格（缺陷）项的数目。由于 np 图的每个子组都包含 Ni 项，而且任一项若非合格即为不合格，所以子组 i 中的不合格项的最大数目为 Ni。
注意：要对 p 图或 np 图使用 Sigma 列属性，该值需要等于比例。JMP 将 sigma 计算为比例和样本大小的函数。
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c 图显示子组样本（通常但不一定总是包含一个检查单位）中不合格项（缺陷项）的数目。
警告：对于 c 图，若您未指定“样本大小”或“常数大小”，则将“样本标签”作为样本大小。
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u 图显示在可能包含不同数目检查单位的每个子组样本中不合格项（缺陷项）的比例。
警告：对于 u 图，若您未指定“单位大小”或“常数大小”，则将“样本标签”作为单位大小。
Levey-Jennings 图
Levey-Jennings 图显示显示过程均值，以及基于长期 sigma 的控制限。控制限位于距离中心线 3s 远的位置。Levey-Jennings 图的标准差 s 计算方法与“分布”平台中的标准差计算方法相同。