本例使用 Capacitor ALT.jmp,该数据表位于样本数据的 Reliability 文件夹中。其中包含用于可靠性研究的模拟数据,这些数据提供了三个温度水平下的删失观测。观测显示为温度水平 85、105 和 125 摄氏度下的删失值。
1.
选择帮助 > 样本数据库,然后打开 Reliability/Capacitor ALT.jmp
2.
选择分析 > 可靠性和生存 > 以 X 拟合寿命
3.
选择小时数并点击 Y,事件时间
4.
选择温度并点击 X
5.
选择删失并点击删失
6.
保留删失代码为 1。
7.
选择频数作为频数
8.
保留 Arrhenius 摄氏温度作为关系,并保持选定嵌套模型检验选项。
9.
Weibull 选作分布。
10.
Wald 选作置信区间方法。
“以 X 拟合寿命”启动窗口显示了完成的启动窗口。
“以 X 拟合寿命”启动窗口
11.
点击确定
Capacitor ALT.jmp 数据的“以 X 拟合寿命”报表窗口显示了“以 X 拟合寿命”报表窗口的上半部分。
Capacitor ALT.jmp 数据的“以 X 拟合寿命”报表窗口