- IR
- Xquer R
- Xquer S
- P
- NP
- C
- U
- CUSUM
- EWMA
- UWMS
- Multivariate Qualitätsregelkarte
- Western Electric-Regeln
- Tests auf spezielle Ursachen
- Laney P' und U'
- Levey Jennings
- Modellgesteuerte multivariate Qualitätsregelkarte
- Cp
- Cpk
- Pp
- Ppk
- Spezifikationsgrenzen
- Zieldiagramm
- Prozessfähigkeit
- Leistung
- Stabilitätsindex
- Qualitätsprüfung
- Verschiebungserkennung
- Prozessleistung
- Auswertung des Messprozesses (EMP)
- Gage R&R
- Typ 1 Gage R&R
- Variabilitätsdiagramm
- Linearität, systematische Abweichung
- Kappa
- Übereinstimmung
- Attributives Gage R&R
- Varianzkomponenten
- MSA-Design
- Pareto-Diagramm
- Ursache-Wirkungs-Diagramm (Fischgräten, Ishikawa)
- Six-Sigma-Qualitätsniveau (Stichprobengröße)