製造業向け： JMPを用いて大量の測定データから
重要な要因をスクリーニングする方法
～応答、説明変数、工程を対象に～
近年、ハードウェアやセンサー技術の進歩により、製品の開発や製造の現場では膨大なデータが取得できるようになっています。材料の特性値や工程ごとの測定値など、多くの変数を含むデータを活用することは、品質の高い製品づくりにおいて重要な鍵となります。
しかし、数百～数千の測定項目をどのように分析すればよいか悩む場面も少なくありません。
本セミナーでは、JMPが有する「スクリーニング」機能を活用し、多くの変数を含むデータの中から重要な変数を見つけ出す方法について、製造業における具体例を用いて解説します。
日時
2025年6月26日（木）14:00～15:30（ライブ開催）
参加費
無料（事前のお申し込みが必要です）
定員
300名（先着順）
講師
増川 直裕
SAS Institute Japan株式会社 JMPジャパン事業部
プロダクトマーケティンググループ マネージャー
主な内容
- イントロダクション：JMPを使って多くの変数から重要なものをスクリーニングする方法
- 多くの変数があるときの変数間の関連性分析
- 「説明変数のスクリーニング」：説明変数(X)の応答変数(Y)に対する寄与度を評価
- 「応答のスクリーニング」： 多数の検定結果に基づくスクリーニング
- 「工程のスクリーニング」：工程能力、管理図の指標などを用いたスクリーニング
- スクリーニングした後の解析として
※ 内容は変更になる可能性があります。
※ 講師の説明とデモンストレーションを視聴いただく形式です。
システム要件
本セミナーは、Zoomを使用したオンラインセミナーです。視聴するには、下記の環境が必要です。
- インターネットに接続されたPC
- スピーカー（イヤホン）
※ 初めて参加する方は事前の接続テスト、またお早めのご参加をお願いいたします。Zoomの接続テストは、こちらから事前に行えます。
お申し込み
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- 受講票メールが届かない場合は、お手数ですが下記担当までご連絡ください。
SAS Institute Japan株式会社 JMPジャパン事業部
jpnmktg@jmp.com
Tel 03-6434-3780（平日 9:00～12:00、13:00～17:00）
個人情報の取り扱いについて
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