半導体製造業

JMPは、データ構造の調査、製造工程の分析、および実験計画に含まれている機能を使った欠陥の発生機会数の分析を行う標準ツールです。その広範な統計解析機能と対話的な操作性により、設計、歩留まり改善、検定、工程、および信頼性の管理を実現します。

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