半導体製造業

難しい統計知識は不要!

JMPは、データ構造の調査、製造工程の分析、および実験計画に含まれている機能を使った欠陥の発生機会数の分析を行う標準ツールです。その広範な統計解析機能と対話的な操作性により、設計、歩留まり改善、検定、工程、および信頼性の管理を実現します。

専門的な統計知識は必要ありません。データを可視化する高いグラフ機能と使いやすさで好奇心を刺激します。

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