통계적 공정 관리

• IR
• Xbar R
• Xbar S
• P
• NP
• C
• U
• CUSUM
• EWMA
• UWMS
• 다변량 관리도
• Western Electric 규칙
• 특수 원인에 대한 검정
• Laney P' 및 U'
• Levey-Jennings
• 모형 기반 다변량 관리도

공정 능력(공정 능력 지수)

• Cp
• Cpk
• Pp
• Ppk
• 규격 한계
• 목표 그림
• 공정 능력
• 성능

품질 평가(공정 변수 선별)

• 안정성 지수
• 품질 검토
• 변화 감지
• 공정 성능

측정 시스템 분석

• EMP(Evaluate Measurement Process)
• 게이지 R&R
• 유형 1 게이지 R&R
• 계량형 차트
• 선형성, 편의
• 카파
• 일치도
• 계수형 게이지 R&R
• 분산 성분
• MSA 설계

품질 개선(식스 시그마)

• 파레토 차트
• 특성 요인도(fishbone, Ishikawa)
• 식스 시그마 품질 수준(표본 크기)

수락 표집

• OC 곡선