公開日: 11/25/2021

コンデンサの加速寿命試験

この例では、サンプルデータフォルダ内の「Reliability」フォルダにある「Capacitor ALT.jmp」を使用します。これは、仮想的な信頼性試験データで、3水準の温度に対して故障数と打ち切り数を乱数シミュレーションしたものです。データは、摂氏85度・105度・125度の温度で、右側打ち切りで試験したものになっています。

1. [ヘルプ]>[サンプルデータライブラリ]を選択し、「Reliability」フォルダにある「Capacitor ALT.jmp」を開きます。

2. [分析]>[信頼性/生存時間分析]>[寿命の二変量]を選択します。

3. 「時間」[Y, イベントまでの時間]に指定します。

4. 「温度」[X]に指定します。

5. 「打ち切り」を選択し、[打ち切り]に指定します。

6. 「打ち切りの値」には[打ち切り]をそのまま使います。

7. 「度数」[度数]に指定します。

8. 「関係」ドロップダウンリストで[Arrhenius摂氏]が選択され、[包含モデルの検定]チェックボックスがオンになっていることを確認します。

9. 「分布」のドロップダウンリストから[Weibull]を選びます。

10. 「信頼区間の方法」は[Wald]のままにしておきます。

図4.21 「寿命の二変量」起動ウィンドウ 

Fit Life by X Launch Window

11. [OK]をクリックします。

図4.22 「Capacitor ALT.jmp」データの「寿命の二変量」レポートウィンドウ 

Fit Life by X Report Window for Capacitor ALT.jmp Data

レポートウィンドウには、データの要約情報・診断プロット・モデルの比較結果・パラメータ推定値・プロファイルなどが表示されます。また、あてはめた確率分布ごとに、推定値などの結果や、「分布」・「分位点」・「ハザード」・「密度」・「加速係数」のプロファイルが表示されます。

より詳細な情報が必要な場合や、質問があるときは、JMPユーザーコミュニティで答えを見つけましょう (community.jmp.com).