이 예에서는 파레토도를 사용하여 서로 다른 두 공정에 대해 집적 회로 제작 중의 고장 원인을 비교합니다. 각 공정의 표본 크기는 1000으로 일정합니다. 이 예의 데이터 테이블에는 고장 원인과 각 결함 유형별 발생 횟수가 나열되어 있습니다.
1. 도움말 > 샘플 데이터 폴더를 선택하고 Quality Control/Failures.jmp를 엽니다.
2. 분석 > 품질 및 공정 > 파레토도를 선택합니다.
3. Causes를 선택하고 Y, 원인을 클릭합니다.
4. Process를 선택하고 X, 그룹화를 클릭합니다.
5. Count를 선택하고 빈도를 클릭합니다.
6. 단위별 분석을 선택한 후 상수를 선택합니다.
7. 표본 크기에 "1000"을 입력합니다.
8. 확인을 클릭합니다.
그림 15.9 파레토도 보고서 창
Process A에서는 Contamination(오염)이 가장 큰 고장 원인으로 나타나고 Process B에서는 Oxide Defect(산화물 결함)가 가장 중요한 고장 원인으로 나타납니다.
9. "파레토도"의 빨간색 삼각형을 클릭하고 그룹 간 비율 검정을 선택합니다.
그림 15.10 그룹 간 비율 검정 결과
그룹(Process A, B) 간 Contamination의 DPU는 약 0.06입니다.