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工艺优化实战：分析关键参数的3种常用统计分析方法
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工艺优化实战：分析关键参数的3种常用统计分析方法
在半导体与高科技产业，工艺优化和效能至关重要。身为品质工程师的您，是否曾面临过以下的工作挑战：
- 常常在工艺出现问题时，不清楚该使用何种分析方法？
- 花费大量时间在比较众多的制程参数图形，却无法快速找出问题参数？
- 难以解读分析结果，无法有效应用在日常的制程优化工作中？
本课程针对【工艺优化】的主题进行分享，透过数个实际案例搭配统计分析方法，帮助您了解如何巧妙地将统计方法应用在日常分析工作当中，无论您是处于半导体、化学、电子零组件或医药等产业皆能适用。
课程大纲：
-
找出工艺问题或关键因子
- 案例讲解
- 常用分析方法：回归分析
- 回归分析的概念与适用场景
-
新旧工艺改善前后比较
- 案例讲解
- 常用分析方法：T检定
- T检定的概念、类型与适用场景
-
进料厂商来料比较、机台性能比较
- 案例讲解
- 常用分析方法：T检定、ANOVA
- ANOVA的概念与适用场景
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