線上直播研討會：JMP 零基礎入門系列 ②

讓製程品質一目了然！JMP 品質提升入門：從製程監控到問題發現

活動時間：2026 年 12 月 10 日（週四）台北時間 14:00 – 15:00

活動地點：Zoom（報名完成後，確認信件將提供與會連結）

活動講師：邵博凌 (Boling Shao)｜JMP 技術工程師

參與對象：從事研發、生產、製程、品質管理或數據分析相關工作的專業人士

課程難度：零基礎至中階使用者

課程費用：零基礎、無需背景。強烈建議對 JMP 完全不熟悉者，先觀看本系列第一課回放，再參加本次課程，學習效果更佳。

您在日常品質管理中，是否常面臨這樣的挑戰：生產過程中有大量品質指標需要持續監控，卻不知道哪些異常最值得關注？發現良率下降或製程波動後，又該如何進一步從數據中找出問題線索？

誠摯邀請您參加 2026 年全新 JMP 入門系列線上研討會第二場「品質提升入門」。

本次課程將從實際品質管理情境出發，以數據驅動的持續品質改善為主軸，帶您了解如何運用 JMP 從製程監控著手，快速篩選值得關注的品質問題，並進一步評估製程能力、探索趨勢與異常，逐步建立簡單、直覺的數據驅動品質分析思維。無論您從事品質管理、生產製造或製程改善，都能從基礎方法入門，更有效率地從數據中發現問題、理解問題，並支援品質改善。

本次網路研討會亮點：

• 製程穩定性監控

  從 SPC 管制圖入手，直觀掌握製程隨時間的變化，快速辨識異常波動與潛在的特殊原因。

• 大量製程篩選

  面對大量產品、參數或製程指標，透過 Process Screening 快速篩選需優先關注的製程，讓品質分析更有重點。

• 製程能力評估

  結合規格要求了解製程能力表現，透過 Cp、Cpk 等常用指標，快速判斷製程是否能穩定符合品質要求。

• 趨勢與異常探索

  透過直覺的數據探索與視覺化方法觀察品質變化趨勢，進一步定位異常發生的時間、範圍及可能相關的條件。

• 問題分析與改善線索

  從發現異常進一步邁向問題分析，透過數據比較與探索找出潛在影響因子，為後續根本原因調查與品質改善提供方向。

適合參加的人：

從事品質管理、生產製造、製程改善、研發及數據分析相關工作的專業人士，涵蓋半導體、電子、光電、化工、生醫等製造與研發領域。

無論您是 JMP 初學者，或是希望運用數據更快速地發現與分析品質問題，本次課程都適合您。

課程系列介紹：

JMP 19 零基礎入門系列 ①｜數據分析不再瞎忙！JMP 19 全新入門：從雜亂數據直通報表視覺自動化
點此觀看回放（強烈建議對 JMP 完全不熟悉者，先觀看本系列第一課回放，再參加本次課程，學習效果更佳。）

JMP 19 零基礎入門系列 ③｜DOE 實驗設計：告別試誤，以結構化 DOE 思維、客製化設計與 Easy DOE 平台快速找出最佳參數。
（2027 年 2 月，敬請期待）