ICdevice02.jmp 数据显示在检查间隔之间发生的失效数。该模型使用两个 y 变量,包含失效时间的上限和下限。右删失时间显示为上限缺失。
注意:ICdevice02.jmp 中的数据来自 Meeker & Escobar (1998, p. 640)。
1.
选择帮助 > 样本数据库,然后打开 Reliability/ICdevice02.jmp
2.
选择分析 > 可靠性和生存 > 拟合参数生存
3.
选择 HoursLHoursU 并点击事件时间
4.
选择计数并点击频数
5.
选择 x 并点击添加
6.
点击运行
ICDevice 输出