「Semiconductor Capability.jmp」サンプルデータには、工程の測定値が128列にわたってまとめられています。どの列にも1,455個の測定値が記録されています。この例では、まず、どの工程が不安定であるかを特定します。このサンプルデータの各列には、それぞれ「仕様限界」列プロパティがすでに含まれています。工程能力指数を求める前に、該当の工程が安定しているかどうかも確認したほうがよいでしょう。この例では安定性しか見ませんが、安定性を調べた後に工程能力も評価するとよいでしょう。
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1.
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［ヘルプ］>［サンプルデータライブラリ］を選択し、「Semiconductor Capability.jmp」を開きます。
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［分析］>［スクリーニング］>［工程のスクリーニング］を選択します。
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「Processes」列グループを選択し、［工程変数］をクリックします。
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［OK］をクリックします。
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図19.2 最初のレポート（一部）
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選択したプロセスを右クリックして、［選択した項目の簡易グラフ］を選択します。
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図19.3 安定比が最も大きい工程の簡易グラフ
「IVP8」（「選択した項目のグラフ」の上から3段目、一番左）を詳しく調べてみましょう。
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7.
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先頭に表示されている要約表で2番目にある「IVP8」を選択します。
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選択した工程をクリックし、［選択した項目の管理図］を選択します。
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図19.4 「IVP8」の管理図ビルダー
「管理図ビルダー」レポートが表示されます。「IVP8」には「仕様限界」列プロパティがあるため、工程能力分析も表示されます。