누적 손상 플랫폼의 예
변동 스트레스 조건에서 40개의 시험 유닛에 대해 계단 스트레스 실험이 수행됩니다. 목표는 스트레스 수준이 0.75일 때 10,000 시간 단위에서의 고장 확률을 추정하는 것입니다. 누적 손상 플랫폼에는 두 개의 입력 데이터 테이블이 필요합니다.
1. 도움말 > 샘플 데이터 폴더를 선택하고 Reliability/CD Step Stress.jmp 및 Reliability/CD Step Stress Pattern.jmp를 엽니다.
CD Step Stress 테이블에는 다음 열이 포함되어 있습니다.
– Time 열은 고장 시간을 제공합니다.
– Pattern ID 열은 스트레스 패턴(1-4)을 식별합니다.
– Censor 열은 고장 시간이 정확한지 아니면 중도절단되었는지를 나타냅니다.
테이블의 각 행은 하나의 시험 유닛에 해당합니다.
CD Step Stress Pattern 테이블에는 다음 열이 포함되어 있습니다.
– Pattern ID 열은 스트레스 패턴(1-4)을 식별합니다.
– Duration 열은 스트레스 요인의 특정 수준이 지속된 시간 단위 수를 나타냅니다.
– Stress 열은 스트레스 요인의 수준을 나타냅니다. 특정 단계의 스트레스 수준은 Voltage 대 Thickness 비율입니다. 이 두 열은 숨겨져 있습니다. Thickness는 각 스트레스 패턴에 대해 일정하게 유지됩니다. 그러나 Voltage는 각 패턴 내에서 다른 수준으로 설정되고 증가합니다. 이러한 수준은 Pattern ID 열의 각 값 내에서 변경됩니다.
2. 분석 > 신뢰성 및 생존 > 누적 손상을 선택합니다.
시작 창에는 고장 시간 데이터("사건 발생 시간")와 스트레스 패턴("스트레스 패턴")에 대한 두 개의 섹션이 있습니다.
3. "사건 발생 시간" 패널에서 테이블 선택을 클릭합니다.
고장 시간 데이터에 대한 데이터 테이블을 지정하는 "사건 발생 시간 데이터 테이블" 창이 나타납니다.
4. CD Step Stress를 선택하고 확인을 클릭합니다.
이제 이 테이블의 열이 "사건 발생 시간" 패널의 열 선택 목록에 채워집니다.
5. Time을 선택하고 사건 발생 시간을 클릭합니다.
6. Censor를 선택하고 중도절단을 클릭합니다.
7. 패턴 ID에 대해 Pattern ID를 선택합니다.
8. "스트레스 패턴" 패널에서 테이블 선택을 클릭합니다.
9. CD Step Stress Pattern을 선택하고 확인을 클릭합니다.
이제 이 테이블의 열이 "스트레스 패턴" 패널의 열 선택 목록에 채워집니다.
10. Duration을 선택하고 스트레스 기간을 클릭합니다.
11. Stress를 선택하고 스트레스를 클릭합니다.
12. Pattern ID를 선택하고 패턴 ID를 클릭합니다.
13. 확인을 클릭합니다.
그림 5.2 사건 그림 및 스트레스 패턴 그림
초기 보고서에는 "사건 그림"과 정의된 스트레스 패턴의 그림이 포함됩니다. 네 가지 스트레스 패턴은 모두 처음 40 시간 단위에 걸쳐 스트레스 수준이 빠르게 증가하고 이후에는 상당히 다른 속도로 증가합니다.
14. "누적 손상"의 빨간색 삼각형을 클릭하고 전체 적합을 선택합니다.
그림 5.3 모형 목록 보고서
"모형 목록" 보고서에 따르면 지수 분포가 최량 적합 분포입니다.
15. "결과" 보고서에서 "지수" 보고서가 나올 때까지 스크롤합니다.
16. "분포 프로파일러" 보고서에서 Stress의 현재 값을 "0.75"로 설정합니다.
17. Time의 현재 값을 "10000"으로 설정합니다.
그림 5.4 지정된 설정에서 지수 분포에 대한 분포 프로파일러
Figure 5.4에서는 시간 단위가 10000일 때 일정한 스트레스 0.75에서 시험 유닛의 예측 고장 확률이 0.007233이고, 95% 신뢰 구간이 0.001368 ~ 0.037754임을 보여 줍니다.