部品変数とX変数の組み合わせごとに、測定値の平均値がプロットされます。「平均図」では、測定誤差の影響を受けても、部品の違いを検出できるかどうかを見てください。部品の違いを検出することが目的なので、「平均図」では、管理限界外の平均値があるほうが望ましいです。第 “平均図”を参照してください。
部品変数とX変数の組み合わせごとに、ばらつき（変動）の統計量がプロットされます。範囲図は、起動ウィンドウの「ばらつき図の種類」で［範囲］を選択している場合のみ表示されます。「範囲図」では、サブグループ内におけるばらつきの一貫性が確認できます。誤差が等分散であり、「範囲図」において範囲が管理限界内に収まっているのが望ましいです。第 “範囲図または標準偏差図”を参照してください。
部品変数とX変数の組み合わせごとに、標準偏差の統計量がプロットされます。標準偏差図は、起動ウィンドウの「ばらつき図の種類」で［標準偏差］を選択している場合のみ表示されます。「標準偏差図」では、サブグループ内におけるばらつきの一貫性が確認できます。誤差が等分散であり、「標準偏差図」において標準偏差が管理限界内に収まっているのが望ましいです。第 “範囲図または標準偏差図”を参照してください。
部品ごとの測定値の平均が、重ね合わせてプロットされます。折れ線が平行でない場合や交差している場合、部品変数とX変数に交互作用があることを示唆しています。
測定システムを評価するための統計量がレポートされます。第 “EMP分析”を参照してください。
測定システムの分解能がレポートされます。第 “測定の有効桁数”を参照してください。
X変数の平均が異なるかどうかを、平均分析（ANOM; ANalysis Of Means）によって検定したグラフです。第 “バイアスの比較”を参照してください。
メモ: このレポートは、「変動性図」プラットフォームの「分散成分」レポートとほぼ同じです。ただし、EMS法、またはREML法だけが推定に使われ、Bayes法による推定は行われません。詳細は、「計量値用ゲージチャート」章の「分散成分」（204ページ）を参照してください。
メモ: このレポートは、「変動性図」プラットフォームの「Gauge R&R」レポートに似ています。ただし、このレポートのモデルには、「再現精度」の交互作用が含められていません。Gauge R&R分析の詳細は、「計量値用ゲージチャート」章の「Gauge R&R分析について」（206ページ）を参照してください。
以下のオプションについて詳しくは、『JMPの使用法』の「JMPのレポート」章を参照してください。