この例で使用する「Failures.jmp」サンプルデータは、「度数」の列がある不適合のデータであり、 集積回路（IC）の2つの製造工程で生じる不適合の原因と、不適合が生じた回数を種類別にまとめたものです。この例では、一定の標本サイズとして1000を指定します。
|
1.
|
|
2.
|
［分析］>［品質と工程］>［パレート図］を選択します。
|
|
3.
|
「原因」を選択して、［Y, 原因］をクリックします。
|
|
4.
|
「プロセス」を選択し、［X, グループ変数］をクリックします。
|
|
5.
|
「度数」を選択し、［度数］をクリックします。
|
|
6.
|
［ユニットあたりの分析］を選択し、［定数］を選択します。
|
|
7.
|
「標本サイズ」に「1000」を入力します。
|
|
8.
|
［OK］をクリックします。
|
図12.10 「パレート図」レポートウィンドウ
|
9.
|
図12.11 ［グループ間の比率の検定］の結果
