JMP data visualization illustration - clades

Formation JMP®

Plan d'expériences et amélioration de la qualité

JMP® : Analyse du système de mesure

Cette formation vous explique comment déterminer l'erreur de mesure associée à votre processus, y compris la variabilité et le biais du système de mesure, à l'aide du logiciel JMP.

Durée : 3 sessions d'une demi-journée

Frais d'inscription : 300 USD

Découvrez comment :
  • Décrire la variation de la mesure.
  • Concevoir des études pour estimer à la fois le biais et la variabilité d'un système de mesure.
  • Estimer la répétabilité et la reproductibilité.
  • Utiliser l'analyse graphique pour comprendre l'erreur de mesure.
  • Estimer le biais et la linéarité.
  • Effectuer des études de mesure d'attribut.

Avant de participer à cette formation, il est recommandé de suivre les formations Logiciel JMP® : Exploration de données au travers d'études de cas et JMP® : Décisions statistiques à l'aide d'une ANOVA et de la régression ou d'avoir une expérience équivalente.

Dates de la formation

Cette formation est présenté en anglais.

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