JMP data visualization illustration - clades

Formation JMP®

Plan d'expériences et amélioration de la qualité

JMP® : Analyse du système de mesure

Cette formation vous explique comment déterminer l'erreur de mesure associée à votre processus, y compris la variabilité et le biais du système de mesure, à l'aide du logiciel JMP.

Durée : 3 sessions d'une demi-journée

Frais d'inscription : 300 USD

Découvrez comment :
  • Décrire la variation de la mesure.
  • Concevoir des études pour estimer à la fois le biais et la variabilité d'un système de mesure.
  • Estimer la répétabilité et la reproductibilité.
  • Utiliser l'analyse graphique pour comprendre l'erreur de mesure.
  • Estimer le biais et la linéarité.
  • Effectuer des études de mesure d'attribut.

Avant de participer à cette formation, il est recommandé de suivre les formations Logiciel JMP® : Exploration de données au travers d'études de cas et JMP® : Décisions statistiques à l'aide d'une ANOVA et de la régression ou d'avoir une expérience équivalente.

Dates de la formation

Cette formation n'est pas disponible actuellement. Veuillez revenir plus tard.

Cette formation est présenté en anglais.

Vous ne trouvez pas la formation que vous souhaitez suivre aux dates souhaitées ? Vous souhaitez être averti la prochaine fois qu'une formation spécifique sera ajoutée au calendrier des formations publiques ?

Demander une formation !

 

Contacter Formation JMP