両側CUSUM管理図

両側CUSUM管理図の場合は、t番目のサブグループに次の累積和Stがプロットされます。

St = St - 1 +zt

（t = 1, 2,..., nの場合）。ここで、S0 = 0であり、ztの項は次のように計算します。

ここで、X̅tはt番目のサブグループの平均を示し、ntはt番目のサブグループの標本サイズを示します。サブグループの標本が個々の測定値xtから成る場合は、ztの項は次のように単純化されます。

zt = (xt - μ0)/σ

最初の式は、次のように書き換えられます。

数列Stは、目標平均μ0からのサブグループ平均の偏差を標準化したものを累積します。

実際の場面ではサブグループの標本サイズniは等しいこと（ni = n）が多いですが、その場合、Stの式は次のように単純化できます。

また、用途によっては、Stを次のように計算する方が解釈しやすい場合があります。

この累積和は、データと同じ単位でスケールされます。この場合、Vマスクのパラメータhとkは、それぞれ

と

にスケールが変更されます。統計学者によっては、k'をF、h'をHと表記する場合があります。

工程が管理された状態にあり、平均μが目標値μ0であるか、それに近い値である場合、累積和はランダムウォーク（酔歩）に従います。ランダムウォークに従っている場合、点はゼロから離れることはありますが、μ0からの正と負のずれが相殺されるため、傾きが現れることはありません。μが正の方向にシフトすると上向きの傾きが現れ、μが負の方向にシフトすると下向きの傾きが現れます。