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Il software di JMP consente ad alcune delle aziende di semiconduttori più grandi e innovative del mondo di accelerare le tempistiche di sviluppo, in maniera più prevedibile e a costi inferiori, senza dover scrivere una sola riga di codice.
Integrazione e gestione prodotti
Concatenare i singoli processi del flusso di lavoro nell'ambito dei semiconduttori pone specifiche problematiche analitiche. Se si considera che tali processi vanno continuamente affinati e regolati per soddisfare le necessità dei clienti e dei settori più esigenti al mondo, si capisce perché gli strumenti analitici in questo campo devono offrire la massima flessibilità e facilità d'uso.
Con JMP è possibile:
- Identificare rapidamente potenziali miglioramenti nella resa di prodotti nuovi o già esistenti.
- Ridurre gli sprechi e il recupero delle variazioni mediante l'analisi delle cause principali basata sui dati.
- Creare wafer map interattive senza difficoltà.
- Ottenere rapidamente le informazioni di cui si ha bisogno per soddisfare le esigenze del cliente tramite piani di partizione efficienti.
- Dare forma a grandi quantità di dati convertendoli in approfondimenti utili.
- Presentare approfondimenti interessanti sui dati a clienti e decisori.
Engineering di processi e strumenti
Dalla risoluzione dei problemi esistenti relativi a processi e strumenti allo sviluppo di nuovi metodi necessari per supportare la nuova tecnologia avanzata, gli ingegneri di strumenti e di processo devono poter passare da un compito all'altro o da un obiettivo all'altro rapidamente. Inoltre, devono poter lavorare con un'ampia gamma di tipi e fonti di dati diversi, e poter disegnare gli esperimenti in modo da affinare i processi in maniera veloce ed economica.
Con JMP è possibile:
- Valutare nuovi strumenti di processo e mandarli in produzione più rapidamente, con meno errori.
- Progettare esperimenti per sviluppare nuove ricette valide e affinare quelle esistenti.
- Aumentare la velocità e la qualità delle analisi automatizzando i compiti di routine.
- Creare wafer map interattive senza difficoltà.
- Identificare e risolvere rapidamente scostamenti o guasti.
- Monitorare in maniera efficace i processi per una qualità costante.
Affidabilità
Capire come e perché un dispositivo potrebbe guastarsi negli anni a venire è un problema non da poco, che richiede un'ottima comprensione della fisica, della statistica, delle probabilità e della modellazione dietro ogni pezzo.
Con JMP è possibile:
- Progettare rapidamente dei test e definire le dimensioni campionarie necessarie.
- Simulare e prevedere con precisione la frequenza dei guasti.
- Presentare i risultati in formato interattivo ai decisori.
- Creare modelli del tempo medio di guasto dipendenti da diversi fattori, come tipo di processo, voltaggio, temperatura e frequenza.
Resa e qualità
Gli ingegneri che si occupano dei controlli qualità si trovano a lavorare in più ambiti e con set di dati diversi: dall'accettazione del cliente ai dati di controllo dei processi statistici e a tutto ciò che c'è in mezzo. L'analisi dei dati è necessaria per individuare la causa principale dei problemi, elaborare azioni correttive e identificare potenziali opportunità di miglioramento che possano portare a una maggiore efficienza e alla riduzione degli sprechi.
Con JMP è possibile:
- Creare rapidamente report e resoconti per identificare meglio i problemi prima che si trasformino in variazioni.
- Sviluppare piani di raccolta dei dati efficienti per orientare le proprie analisi.
- Procedere all'analisi delle cause principali in maniera più efficiente, tramite modelli IA e apprendimento automatico.
- Creare wafer map interattive senza difficoltà.
- Gestire e modificare in maniera efficace set di dati diversi da un'ampia varietà di fonti.
Risultati ottenuti dagli utenti JMP
260%
di aumento della soddisfazione degli ingegneri per il proprio lavoro
Vishay
“Apportare continuo valore all'azienda: ecco cosa sa fare JMP®.”
Seagate
83%
di miglioramento nell'indice di capability del processo
Polar Semiconductor
Le funzioni JMP utili nell'industria dei semiconduttori
Disegno di esperimenti (DOE)
Create serie sperimentali personalizzate per massimizzare le informazioni ottenute da ciascun wafer.
Piano di screening definitivo
Ottimizzate rapidamente i processi traendo da ogni lotto sperimentale più informazioni che mai.
data mining
Usate apprendimento automatico, IA e classiche tecniche di data mining per trovare approfondimenti nascosti e identificare rapidamente le potenziali cause dei problemi.
Rappresentazione grafica dei dati
JMP unisce grafiche dinamiche e potenti statistiche per condividere in forma interattiva le scoperte fatte. Esplorate i dati senza abbandonare il flusso di analisi e senza dover ripetere i comandi per rispondere a nuove domande.
Analisi qualitative e di capability
Sfruttate la piattaforma di Screening del processo di JMP (la nostra dashboard di qualità) per determinare rapidamente quali variabili richiedono attenzione e identificare gli eventi fuori controllo prima che si trasformino in variazioni.
Funzionalità Esplora pattern
Esaminate l'integrità dei dati identificando in modo più efficiente i pattern imprevisti, anche nei set di dati più ampi.
