JMPによるMSA（測定システム分析）入門

MSA（測定システム分析）とは、管理図による工程監視や、仕様限界に基づく適合品検査を行う前に、測定そのものが十分に精確であることをチェックするための分析です。

たとえば、寸法が0.9～1.0マイクロメートルの製品を適合品として出荷しているのに、測定誤差がプラスマイナス1ミリメートルだとしたら、検査そのものが無意味になってしまいます。
測定値が、測定誤差ばかりに左右されていて、実際の製品や部品の大きさを反映していないからです。

JMP 10では、Gage R&R分析に加え、Donald J. Wheeler博士が提唱している「EMP分析法」が追加されました。
EMP分析では、測定システムをさまざまなグラフと数値で評価できることが特徴です。またJMP 10では、改善を行った際に、プロセスのシフトを検出する確率がどのように変化するかを確認できるグラフも表示されます。

この動画セミナーでは、これらのMSA（測定システム分析）の機能を、デモンストレーションを交えてご紹介します。