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JMPをマスターしよう(第6回) 管理図と測定システム分析


内容

JMPをすでにお持ちの方を対象に、毎月1回さまざまなテーマでJMPの活用方法についてご紹介するセミナーです。第6回は、「管理図と測定システム分析」です。

 

詳細

JMPには、品質や工程のパフォーマンスを評価し、改善するための手法や便利なツールが数多く用意されています。

たとえば、管理図を使うことで、工程が統計学的に管理状態にあるか、管理状態から逸脱しているか、判定することができます。

また、工程を分析する前には、工程が精確に測定されているかどうかを調べる必要があります。なぜなら、変動が測定に起因しているとしたら、工程について確かなことを探り出すことはできないからです。
この分析は「測定システム分析」と呼ばれます。

本セミナーでは、これら2つの分析手法について、ご紹介します。

このセミナーで学ぶこと

  • 測定システム分析(Gauge R&R、EMP分析)
  • 管理図ビルダーによる管理図作成(XBar管理図)

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