半導体製造業

JMPは、その広範な統計分析機能とインタラクティブな操作性により、設計、収率、テスト、工程、品質、および信頼性を担当する各エンジニアリングワークグループにとって、データ構造の調査、製造工程の分析、および実験計画に含まれている機能を使った欠陥の発生機会数の分析を行う標準ツールとなっています。


JMPは、既存の製品と技術に関する問題解決および収率改善プログラムをサポートします。また、製品の変更、新しい製品や技術の開発および改善を先導したり伝えたりする場合にも使用できます。

広範な統計解析機能と対話的な操作性により、設計、歩留まり改善、検定、工程、および信頼性の管理を実現

JMPを使ってみよう

全機能を30日間無料で試用可能!

今すぐダウンロード

「JMPの分析用コンポーネントは、われわれが検討した他のどのソフトウェアパッケージよりも優れています。いくつかの統計分析パッケージで同じデータを分析してみたところ、JMPは他のパッケージよりもわれわれのニーズに合った広範な解答を出しました。当社の生産拠点ではすべてJMPを使用しています。使いやすさの点からも技術的な観点からも、迅速に展開することができました」

Mark Seay氏
National Semiconductor社
品質担当取締役
お問い合わせ

Back to Top